芯片最后失效是最令人頭疼的事情, 一方面會(huì)耽誤產(chǎn)品上市的時(shí)間, 另一方面需要很多時(shí)間和精力去分析問(wèn)題出在哪里. 因此制定一系列的分析方案尤其重要. 一般來(lái)說(shuō), 芯片F(xiàn)A 有如下不同的手段 :
FA的專業(yè)服務(wù)能為XMOD 中歐半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)平臺(tái)服務(wù)上提供給設(shè)計(jì)公司更完善的配套服務(wù),因此, XMOD很榮幸的和泓準(zhǔn)達(dá)公司達(dá)成合作.作為集成電路失效分析和技術(shù)咨詢專家, 泓準(zhǔn)達(dá)公司的服務(wù):
專業(yè):泓準(zhǔn)達(dá)擁有多名資深FA,知名實(shí)驗(yàn)室專案整合工程師,以及聘請(qǐng)復(fù)旦教授做技術(shù)顧問(wèn).提供切合貴公司需求的解決方案和FA report。
快捷:泓準(zhǔn)達(dá)公司已經(jīng)與快件公司合作,已證實(shí)能做出快速反應(yīng);有FA Lab,高校,研究所等廣泛的設(shè)備使用資源。
精準(zhǔn):失效發(fā)生后,由經(jīng)驗(yàn)豐富的資深FA確定失效分析方案,專案整合
工程師整合資源做實(shí)驗(yàn)安排,進(jìn)度跟進(jìn)FAreport.最后由資深FA對(duì)結(jié)果審查。
-
芯片
+關(guān)注
關(guān)注
456文章
51192瀏覽量
427334 -
半導(dǎo)體
+關(guān)注
關(guān)注
334文章
27719瀏覽量
222699
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
芯片的失效性分析與應(yīng)對(duì)方法

聚焦離子束分析技術(shù)-在汽車級(jí)芯片的失效分析

FIB技術(shù):芯片失效分析的關(guān)鍵工具

PROM器件在物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備中的重要性
PCBA加工中的靈魂:揭秘芯片燒錄的重要性
關(guān)于蓄電池氣密性檢測(cè)儀重要性和使用方法

季豐對(duì)存儲(chǔ)器芯片的失效分析方法步驟

芯片失效問(wèn)題解決方案:從根源找到答案
淺談半導(dǎo)體芯片失效分析Analysis of Semiconductor Chip Failure

評(píng)論